PDL/IL多功能测试仪

General Photonics公司的PDL/IL多功能测试仪(PDL-201)采用大值/小值搜寻法(符合TIA/EIA-455-198标准)，能够对器件的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)、光功率进行快速测量，测量速度0.2s。该测试仪工作波长覆盖1260～1620nm，在高、低PDL和各种SOP的情况下都能得到精确的测量结果。该测试仪拥有RS-232、USB 及以太网接口，可以方便地与计算机连接，进行远程控制和数据传输，是精确、快速测量无源器件、DWDM 器件的理想仪器。

主要应用：

1、偏振相关损耗(PDL)的测量

2、插入损耗(IL)的测量

3、器件特性监测

PDL/IL多功能测试仪技术规格
PDL-201在1260至1650 nm的波长范围内工作。它的测量速度为30毫秒，并且可以在整个测量范围内准确地测量PDL或IL到±（0.01 + PDL或IL的5％）dB以内。PDL-201可以从前面板进行控制，也可以通过USB，以太网，RS-232或GPIB接口进行远程控制。此外，它还具有用户可配置的模拟监控器电压输出，以监控PDL值。

与所有Gen2仪器一样，它具有OLED图形显示屏，人体工学键盘和通用电源。